[发明专利]一种检测电芯表面缺陷的方法及装置在审
申请号: | 201910431360.X | 申请日: | 2019-05-22 |
公开(公告)号: | CN110208283A | 公开(公告)日: | 2019-09-06 |
发明(设计)人: | 曾庆全;穆欣欣;姜涌;邹伟金;汪杰;谢顶富 | 申请(专利权)人: | 惠州高视科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95 |
代理公司: | 北京国帆知识产权代理事务所(普通合伙) 11334 | 代理人: | 李波;刘小哲 |
地址: | 516001 广东省惠州市惠澳大道惠南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种检测电芯表面缺陷的方法,包括:第二步骤(S2),利用红外光对电芯进行照射;第三步骤(S3),采集经过红外光照射的电芯的图像,以得到红外照射图像;以及第四步骤(S4),根据所述红外照射图像来确定所述电芯的表面缺陷。另一种检测电芯表面缺陷的方法,在第二步骤(S2)之前,还包括第一步骤(S1):对所述电芯进行吹风除尘。本发明提出一种新的光学方式进行电芯缺陷检测中的除尘,同时可以加上吹风除尘,避免了电芯表面缺陷检测时由于电芯表面柔软采用接触式除尘方式会引入新的电芯表面的缺陷,同时通过红外光照射的方法也能过滤掉极大比例的灰尘。 | ||
搜索关键词: | 电芯表面 电芯 种检测 红外光照射 吹风除尘 红外照射 缺陷检测 图像 红外光 表面缺陷 除尘方式 光学方式 接触式 除尘 柔软 过滤 照射 采集 引入 | ||
【主权项】:
1.一种检测电芯表面缺陷的方法,包括:第二步骤(S2),利用红外光对电芯进行照射;第三步骤(S3),采集经过红外光照射的电芯的图像,以得到红外照射图像;第四步骤(S4),根据所述红外照射图像来确定所述电芯的表面缺陷。
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