[发明专利]一种基于示波器探棒的PCB电子元器件测试方法与系统在审
申请号: | 201910451682.0 | 申请日: | 2019-05-28 |
公开(公告)号: | CN110095638A | 公开(公告)日: | 2019-08-06 |
发明(设计)人: | 姚鹏飞 | 申请(专利权)人: | 浪潮商用机器有限公司 |
主分类号: | G01R1/067 | 分类号: | G01R1/067;G01R31/26 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 罗满 |
地址: | 250100 山东省济南市历城区唐冶新*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明公开一种基于示波器探棒的PCB电子元器件测试方法,包括:驱动探头在空间内移动至待测电子元器件的上方;驱动探头以预设速度降至待测电子元器件表面与其接触,并在探头与待测电子元器件表面开始接触时实时检测其所受外力;根据探头的外力以及系统惯性、系统阻尼参数计算探头的应变速度,并使探头保持应变速度以与待测电子元器件表面保持恒力接触预设时间至完成测试。本发明能够在对PCB上的电子元器件进行示波器探棒的测试过程中,使探棒与电子元器件保持恒力稳定接触,避免损坏PCB或探棒,同时提高测试效率。本发明还公开一种基于示波器探棒的PCB电子元器件测试系统,其有益效果如上所述。 | ||
搜索关键词: | 电子元器件 探头 探棒 示波器 电子元器件表面 测试 恒力 预设 参数计算 测试过程 测试系统 测试效率 实时检测 稳定接触 系统惯性 系统阻尼 驱动 移动 | ||
【主权项】:
1.一种基于示波器探棒的PCB电子元器件测试方法,其特征在于,包括:驱动探头在空间内移动至待测电子元器件的上方;驱动所述探头以预设速度降至待测电子元器件表面与其接触,并在所述探头与待测电子元器件表面开始接触时实时检测其所受外力;根据所述探头的外力以及系统惯性、系统阻尼参数计算所述探头的应变速度,并使所述探头保持所述应变速度以与待测电子元器件表面保持恒力接触预设时间至完成测试。
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