[发明专利]一种基于示波器探棒的PCB电子元器件测试方法与系统在审

专利信息
申请号: 201910451682.0 申请日: 2019-05-28
公开(公告)号: CN110095638A 公开(公告)日: 2019-08-06
发明(设计)人: 姚鹏飞 申请(专利权)人: 浪潮商用机器有限公司
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067;G01R31/26
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 罗满
地址: 250100 山东省济南市历城区唐冶新*** 国省代码: 山东;37
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开一种基于示波器探棒的PCB电子元器件测试方法,包括:驱动探头在空间内移动至待测电子元器件的上方;驱动探头以预设速度降至待测电子元器件表面与其接触,并在探头与待测电子元器件表面开始接触时实时检测其所受外力;根据探头的外力以及系统惯性、系统阻尼参数计算探头的应变速度,并使探头保持应变速度以与待测电子元器件表面保持恒力接触预设时间至完成测试。本发明能够在对PCB上的电子元器件进行示波器探棒的测试过程中,使探棒与电子元器件保持恒力稳定接触,避免损坏PCB或探棒,同时提高测试效率。本发明还公开一种基于示波器探棒的PCB电子元器件测试系统,其有益效果如上所述。
搜索关键词: 电子元器件 探头 探棒 示波器 电子元器件表面 测试 恒力 预设 参数计算 测试过程 测试系统 测试效率 实时检测 稳定接触 系统惯性 系统阻尼 驱动 移动
【主权项】:
1.一种基于示波器探棒的PCB电子元器件测试方法,其特征在于,包括:驱动探头在空间内移动至待测电子元器件的上方;驱动所述探头以预设速度降至待测电子元器件表面与其接触,并在所述探头与待测电子元器件表面开始接触时实时检测其所受外力;根据所述探头的外力以及系统惯性、系统阻尼参数计算所述探头的应变速度,并使所述探头保持所述应变速度以与待测电子元器件表面保持恒力接触预设时间至完成测试。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浪潮商用机器有限公司,未经浪潮商用机器有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910451682.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top