[发明专利]一种高熔点材料雾化粒径分布及雾化率的测量方法及装置有效
| 申请号： | 201910452067.1 | 申请日： | 2019-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN110208150B | 公开（公告）日： | 2022-08-23 |
| 发明（设计）人： | 张智刚;马瑶龙;王赟 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工程大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N5/00;B22F9/08 |
| 代理公司： | 北京睿博行远知识产权代理有限公司 11297 | 代理人： | 彭姣云 |
| 地址： | 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 本发明提供一种高熔点材料雾化粒径分布及雾化率的测量方法及装置，包括密封容器、密封坩埚、加热装置、收集皿和管道调节装置；所述密封坩埚和加热装置设置在密封容器内，且加热装置设置在密封坩埚的周围，所述收集皿与密封坩埚的下部相连；所述管道调节装置包括主管道、与主管道相连的第一支管道核第二支管道、设置在密封容器上的充气孔和排气孔；所述第一支管道与密闭容器相通，所述第二支气管道与密封坩埚相通，所述主管道上安装有气体流量计，所述第二支气管道上安装有压力；本发明采集雾化场中所有的液滴并冷却成固体颗粒，成功解决了现有方法及装置分辨率不足，且不能测量雾化场总体的粒径分布以及雾化率的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 熔点 材料 雾化 粒径 分布 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种高熔点材料雾化粒径分布及雾化率的测量装置，其特征是，包括密封容器、密封坩埚、加热装置、收集皿和管道调节装置；所述密封坩埚和加热装置设置在密封容器内，且加热装置设置在密封坩埚的周围，所述收集皿与密封坩埚的下部相连；所述管道调节装置包括主管道、与主管道相连的第一支管道核第二支管道、设置在密封容器上的充气孔和排气孔；所述第一支管道与密闭容器相通，所述第二支气管道与密封坩埚相通，所述主管道上安装有气体流量计，所述第二支气管道上安装有压力。
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