[发明专利]一种探测器模块的对齐方法

摘要

本发明涉及CT成像技术领域，尤其涉及一种探测器模块的对齐方法，依次包括校准阶段和测量阶段，根据校准阶段和测量阶段得到的拟合关系式计算出限束器和探测器模块之间的相对偏差值，从而得到探测器模块所需的调整量，最后通过调整工装对探测器模块进行调整；本发明的优点在于：通过理论计算结合实际测量数据来确定探测器模块的不确定程度，精度较高，探测器机械加工难度降低；同时，通过螺旋测微头带动探测器模块导向块移动，从而控制探测器模块进行微型移动，具有结构简单，调节方便，调节精度较高的特点；降低了生产成本，提高了探测器机械制造的成品率。

主权项

1.一种探测器模块的对齐方法，其特征在于：依次包括校准阶段、测量阶段和调整阶段，所述校准阶段包括以下步骤：S1.根据限束器的开缝形状，采用理论方法模拟限束器和探测器模块之间的对齐距离，计算出探测器各排模块的信号分布；S2.根据步骤S1的信号分布拟合出一个信号分布关系式：其中，I(z)为第Z排探测器模块收到的信号，C_n为多项式系数，N表示探测器模块总的排数；S3.重复计算探测器模块与限束器之间的相对偏差，并以限束器和探测器模块之间的相对偏差为自变量，以步骤S2中信号分布的多项式系数作为因变量进行拟合，得到的拟合关系式为：其中，D_n为步骤S1中进行理论方法模拟时得到的系数，δ为探测器模块和限束器之间的相对偏差距离；所述测量阶段包括以下步骤：T1.采用机械对齐方式对齐限束器和X射线球管的焦点；T2.进行曝光，采集探测器各排模块的信号分布，并对每个探测器单元的信号进行偏置校正和增益校正，将校正后的信号采用S2中的公式进行拟合，得到多项式系数C_n；T3.通过步骤T2中得到的多项式系数C_n以及在步骤S3中得到的拟合关系式即可得到限束器和探测器模块之间的相对偏差δ；所述调整阶段包括以下步骤：包括调节工装，将调节工装安装至探测器支架上，通过步骤T3中的相对偏差δ即可计算出相邻探测器模块之间的偏差值，该偏差值即为调节工装对探测器模块进行调整的调整量；根据调整量，对探测器模块间的相对位置进行调整。