[发明专利]一种像素暗态漏光的检测装置在审
申请号: | 201910460039.4 | 申请日: | 2019-05-30 |
公开(公告)号: | CN110187532A | 公开(公告)日: | 2019-08-30 |
发明(设计)人: | 侯伟康;陈黎暄 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G01M11/00 |
代理公司: | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人: | 黄威 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种像素暗态漏光的检测装置,该检测装置包括:载台;图像获取模组,设置在所述载台上,所述图像获取模组可在所述载台上相对待检测显示面板往返移动,所述图像获取模组包括相机和光学显微镜,所述相机的镜头的位置与所述光学显微镜的镜头的位置对应;所述图像获取模组用于获取所述待检测显示面板处于暗态显示时像素的图像;图像处理器,用于对所述图像进行处理,以获取漏光特征参数。本发明的像素暗态漏光的检测装置,能够准确地获取漏光特征参数,从而有效地提升对比度。 | ||
搜索关键词: | 检测装置 图像获取 模组 像素 暗态漏光 光学显微镜 特征参数 显示面板 漏光 相机 图像 图像处理器 暗态显示 往返移动 镜头 有效地 检测 载台 | ||
【主权项】:
1.一种像素暗态漏光的检测装置,其特征在于,包括:载台;图像获取模组,设置在所述载台上,所述图像获取模组可在所述载台上相对待检测显示面板往返移动,所述图像获取模组包括相机和光学显微镜,所述相机的镜头的位置与所述光学显微镜的镜头的位置对应;所述图像获取模组用于获取所述待检测显示面板处于暗态显示时像素的图像;图像处理器,用于对所述图像进行处理,以获取漏光特征参数。
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