[发明专利]基于二维稀疏S变换快速频域解相的三维面形测量方法

摘要

本发明公开了一种基于二维稀疏S变换快速频域解相的三维面形测量方法，首先向待测物体投射正弦结构光栅，采集受到待测物体高度分布调制的变形光栅，然后通过二维稀疏S变换处理获得的变形条纹图，得到四维的二维稀疏S变换系数矩阵；从二维稀疏S变换系数矩阵中求取相位，得到包裹在[‑π，+π]之间的截断相位；最后对截断相位进行相位展开，得到连续分布的自然相位，根据相位与高度分布调制关系，得到待测物体的三维面形分布。本发明解决了现有技术中存在的三维面形测量精度低的问题。

主权项

1.基于二维稀疏S变换快速频域解相的三维面形测量方法，其特征在于，具体按照以下步骤实施：步骤1、向待测物体投射正弦结构光栅，采集受到待测物体高度分布调制的变形光栅，正弦结构光栅和变形光栅表达式分别如下式：式中，A(x,y)为背景光场，B(x,y)为条纹对比度，f_0u为水平方向的空间载频，f_0v为垂直方向的空间载频，为正弦结构光栅的初始相位，令初始相位为0，为变形光栅的相位，表示由被测物体的高度产生的条纹相位调制；步骤2、通过二维稀疏S变换处理获得的变形条纹图f(x,y)，得到四维的二维稀疏S变换系数矩阵；步骤3、从二维稀疏S变换系数矩阵中求取相位，得到包裹在[‑π，+π]之间的截断相位；步骤4、对截断相位进行相位展开，得到连续分布的自然相位，根据相位与高度分布调制关系，得到待测物体的三维面形分布。