[发明专利]一种直接在晶圆片上沉积过渡衬底薄膜的CSP器件及其制备方法在审
申请号: | 201910478471.6 | 申请日: | 2019-06-03 |
公开(公告)号: | CN110246751A | 公开(公告)日: | 2019-09-17 |
发明(设计)人: | 李宗涛;汤勇;唐雪婷;宋存江;李家声;曹凯;余彬海 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学;广东祥新光电科技有限公司;深圳市良机自动化设备有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L33/00;H01L21/673;H01L33/44 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 何淑珍;江裕强 |
地址: | 510640 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种直接在晶圆片上沉积过渡衬底薄膜的CSP器件及其制备方法。所述制备方法包括:将放置了晶圆的载板装置放入PECVD设备反应腔室内,抽空,升温;连通射频电源,将晶圆片倒置,通入反应气体;将晶圆片正置,镀上金属电极,然后在出光面涂覆一层荧光胶。得到所述CSP器件。本发明还设计了上述的载板装置,其包括载板主体、模具单元和隔模板;载板主体上设有电极层,所述的模具单元和隔膜板内嵌在载板主体内;模具单元外部是于载板主体相贴合,叠置在一起。本发明提供的制备方法,能避免MCPCB板对芯片应力传递,引起外延层裂纹的问题,能防止在所沉积的薄膜覆盖晶圆片的电极。 | ||
搜索关键词: | 晶圆片 载板主体 制备 模具单元 沉积 衬底 载板 薄膜 上金属电极 薄膜覆盖 反应气体 射频电源 应力传递 倒置 电极 出光面 电极层 反应腔 隔膜板 外延层 荧光胶 叠置 放入 晶圆 内嵌 贴合 涂覆 正置 抽空 连通 室内 芯片 外部 | ||
【主权项】:
1.一种直接在晶圆片上沉积过渡衬底薄膜的CSP器件的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)将已放置晶圆的载板装置放入PECVD设备的反应腔室内,抽真空,升温后在沉积过程中维持温度恒定;(2)将PECVD设备以及晶圆载板装置连通中频或者射频电源;(3)将晶圆片倒置,持续通入惰性气体和反应气体,得到镀上薄膜的晶圆片;(4)关闭所述中频或者射频电源,停止通入反应气体,取出步骤(3)所述镀上薄膜的晶圆片;(5)将镀上薄膜的晶圆片正置,镀上金属电极,然后涂覆一层荧光胶;(6)将镀上金属电极的晶圆片切割成单个CSP器件,得到所述直接在晶圆片上沉积过渡衬底薄膜的CSP器件。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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