[发明专利]测试方法和测试系统在审
| 申请号： | 201910485895.5 | 申请日： | 2019-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN110187250A | 公开（公告）日： | 2019-08-30 |
| 发明（设计）人： | 于圣慧 | 申请（专利权）人： | 吉林华微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 徐彦圣 |
| 地址： | 132013 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供的测试方法和测试系统，涉及热逃逸性能测试技术领域。测试方法应用于包括待测二极管、测试设备和加热设备的测试系统，测试设备与待测二极管连接，该测试方法包括：将待测二极管放置于加热设备，并控制加热设备对待测二极管进行加热至预设温度；通过测试设备向待测二极管施加第一方向电压，控制待测二极管正向导通；停止向待测二极管施加第一方向电压，并通过测试设备向待测二极管施加第二方向电压，控制待测二极管反向截止；停止向待测二极管施加第二方向电压，并测试待测二极管是否被击穿，以完成热逃逸性能的测试。通过上述设置，可以测试二极管的热逃逸性能，以提高二极管的实用性。 | ||
| 搜索关键词： | 二极管 测试设备 方向电压 测试 测试系统 加热设备 热逃逸 施加 性能测试技术 测试二极管 二极管连接 反向截止 正向导通 击穿 加热 预设 | ||
【主权项】：
1.一种测试方法，其特征在于，应用于包括待测二极管、测试设备和加热设备的测试系统，所述测试设备与所述待测二极管连接，该测试方法包括：将所述待测二极管放置于所述加热设备，并控制所述加热设备对所述待测二极管进行加热至预设温度；通过所述测试设备向所述待测二极管施加第一方向电压，控制所述待测二极管正向导通；停止向所述待测二极管施加所述第一方向电压，并通过所述测试设备向所述待测二极管施加第二方向电压，控制所述待测二极管反向截止；停止向所述待测二极管施加所述第二方向电压，并测试所述待测二极管是否被击穿，以完成热逃逸性能的测试。
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