[发明专利]一种二维高导电率氢化NbSe2有效

专利信息
申请号: 201910489976.2 申请日: 2019-06-06
公开(公告)号: CN110342474B 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: 吴长征;郭宇桥;谢毅 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: C01B19/04 分类号: C01B19/04;B82Y30/00;B82Y40/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王洋
地址: 230026 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明提供了一种二维高导电率氢化NbSe2纳米片的制备方法,包括:将层状NbSe2块材浸入锂源溶液反应,得到前驱物LixNbSe2;将LixNbSe2分散在去离子水中,通惰性气体保护,超声剥离得到分散的超薄二维高导电率氢化HxNbSe2纳米片。本发明选用高导电性层状NbSe2金属材料,利用Li离子进行插层扩大了NbSe2层间距,便于剥离成为超薄纳米片;又充分利用了水中H离子置换Li离子,实现电子注入,进一步提高纳米片载流子浓度和导电率,从而得到了高导电率的氢化NbSe2纳米片并可以进一步组装得到薄膜。本发明方法简单,产率高,结构保存完好,组装成二维薄膜便于转移,导电性高,循环稳定性良好。
搜索关键词: 一种 二维 导电 氢化 nbse base sub
【主权项】:
1.一种二维高导电率氢化NbSe2纳米片的制备方法,其特征在于,包括:A)将层状NbSe2块材浸入锂源溶液反应,得到前驱物LixNbSe2;B)将LixNbSe2分散在去离子水中,通惰性气体保护,超声剥离得到分散的超薄二维高导电率氢化HxNbSe2纳米片。
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