[发明专利]表面缺陷采集系统、表面缺陷检测方法、装置及存储介质有效

专利信息
申请号: 201910491285.6 申请日: 2019-06-06
公开(公告)号: CN110243831B 公开(公告)日: 2022-02-15
发明(设计)人: 姚进发;林荣;胡玮 申请(专利权)人: 锐捷网络股份有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 黄志华
地址: 350002 福建省福州市仓*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开了表面缺陷采集系统、表面缺陷检测方法、装置及存储介质,用以解决现有技术中存在的不能快速、准确的对高反光产品的表面缺陷进行检测的技术问题。包括:支撑装置、以及分别设置在支撑装置第一侧上方和第二侧上方的可编程光源和图像采集装置,可编程光源用于输出多组明暗条纹相间的面光源;图像采集装置用于同时从不同角度对待检测面进行图像数据采集;控制装置用于控制支撑装置水平移动或绕指定轴转动,使待检测面与水平面平行,并控制可编程光源或支撑装置沿预设方向移动,使多组明暗条纹按设定距离沿预设方向在待检测面移动指定次数,每移动一次控制图像采集装置采集一次待检测面的图像数据,预设方向为明暗条纹交替出现的任一方向。
搜索关键词: 表面 缺陷 采集 系统 检测 方法 装置 存储 介质
【主权项】:
1.一种表面缺陷采集系统,其特征在于,包括:支撑装置,用于支撑待检物体,并使所述待检物体的待检测面与水平面平行;可编程光源,设置在所述支撑装置中心轴的第一侧上方,用于输出多组明暗条纹相间的面光源,并照射在所述待检测面,所述中心轴与所述水平面垂直;图像采集装置,设置在所述支撑装置中心轴的第二侧上方,所述第二侧与所述第一侧相对,且位于沿预设方向延伸的同一纵切面中,用于同时从不同角度对所述待检测面进行图像数据采集;控制装置,用于控制所述支撑装置水平移动或绕指定轴转动,使所述待检测面与所述水平面平行,并控制所述可编程光源或所述支撑装置沿预设方向移动,使所述多组明暗条纹按设定距离沿所述预设方向在所述待检测面移动指定次数,每移动一次控制所述图像采集装置采集一次所述待检测面的图像数据,所述预设方向为明暗条纹交替出现的任一方向。
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