[发明专利]一种测试装置在审

专利信息
申请号: 201910508009.6 申请日: 2019-06-12
公开(公告)号: CN110261695A 公开(公告)日: 2019-09-20
发明(设计)人: 程振;钟衍徽;任楚建 申请(专利权)人: 深圳市江波龙电子股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/04;G05D23/24;G05D23/19
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 李庆波
地址: 518057 广东省深圳市南山区科发路8*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请公开了一种测试装置,其中,该测试装置包括:承载容器,用于放置待测试元件;压块,用于在待测试元件进行测试时,按压固定待测试元件;导热组件,连接压块和外部热源设备,用于在待测试元件进行测试时,为待测试元件提供设定温度。通过上述方式,能够在不同温度环境下对待测试元件进行测试,并且只改变待测试元件的温度,避免了高温环境对测试装置的性能的影响。
搜索关键词: 待测试元件 测试装置 测试 按压 外部热源设备 测试元件 承载容器 导热组件 高温环境 连接压块 温度环境 压块 申请
【主权项】:
1.一种测试装置,其特征在于,所述测试装置包括:承载容器,用于放置待测试元件;压块,用于在所述待测试元件进行测试时,按压固定所述待测试元件;导热组件,连接所述压块和外部热源设备,用于在所述待测试元件进行测试时,为所述待测试元件提供设定温度。
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