[发明专利]一种应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点方法及系统有效
| 申请号： | 201910516027.9 | 申请日： | 2019-06-14 |
| 公开（公告）号： | CN110196504B | 公开（公告）日： | 2021-11-12 |
| 发明（设计）人： | 黄双平;朱庆华;华卫华 | 申请（专利权）人： | 深圳市全洲自动化设备有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市龙华区大浪街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点方法及系统，包括步骤：断开LCD玻璃的脚位供电，对LCD玻璃显示界面进行拍照得到初始图像；对LCD玻璃的单一脚位进行供电，对LCD玻璃显示界面进行拍照得到显示图像；对显示图像与模板图像进行对比，得到第一差异图像；对第一差异图像与初始图像对比，得到真实差异图像。能够实现对LCD玻璃上的污点进行屏蔽，使LCD玻璃通电后产生的图像进行准确识别，避免LCD玻璃因为玻璃上的污点而影响LCD玻璃正常生产的缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 应用于 lcd 玻璃 aoi 测试 屏蔽 干扰 污点 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点方法，其特征在于，包括步骤：断开LCD玻璃的脚位供电，对LCD玻璃显示界面进行拍照得到初始图像；对LCD玻璃的单一脚位进行供电，对LCD玻璃显示界面进行拍照得到显示图像；对显示图像与模板图像进行对比，得到第一差异图像；对第一差异图像与初始图像对比，得到真实差异图像。
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