[发明专利]微波辅助法合成荧光碳点用于硫氰酸根离子的测定方法在审
| 申请号： | 201910531511.9 | 申请日： | 2019-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN110346337A | 公开（公告）日： | 2019-10-18 |
| 发明（设计）人： | 张燕飞;潘乐;陈闪闪;郁建李;汪志伟;鹿建伟 | 申请（专利权）人： | 黄山学院 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;C09K11/65;B82Y20/00;B82Y40/00 |
| 代理公司： | 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 11427 | 代理人： | 陈娟 |
| 地址： | 245021 安徽省黄山*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了微波辅助法合成荧光碳点用于硫氰酸根离子的测定方法，其特征在于包括以下步骤：S1：制备碳点；S2：对碳点进行分离纯化；S3：取碳点溶液，EX在320nm～420nm范围内，扫描碳点溶液的发射光谱，检测荧光强度；S4：在碳点溶液中加入金属Fe3+离子溶液，EX在320nm～420nm范围内，扫描碳点溶液的发射光谱，检测荧光强度，碳点溶液的荧光强度减弱；S5：检测溶液中是否含有SCN‑，淬灭后的碳点溶液加入待检测溶液,测定其荧光强度，致使碳点溶液的荧光得到恢复，则含有金属阳离子溶液中含有SCN‑，本发明以碳点为荧光探针，三价铁离子对碳点的荧光淬灭效果最好，添加硫氰酸根离子成功使淬灭后的碳点荧光得到恢复，便于检测溶液中是否含有硫氰酸根离子。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光 硫氰酸根离子 检测 微波辅助法 发射光谱 合成荧光 淬灭 扫描 金属阳离子溶液 三价铁离子 分离纯化 离子溶液 强度减弱 荧光淬灭 荧光探针 制备 恢复 金属 成功 | ||
【主权项】：
1.微波辅助法合成荧光碳点用于硫氰酸根离子的测定方法，其特征在于包括以下步骤：S1：制备碳点；S2：对碳点进行分离纯化；S3：取碳点溶液，EX在320nm～420nm范围内，扫描碳点溶液的发射光谱，检测荧光强度；S4：在碳点溶液中加入金属Fe3+离子溶液，EX在320nm～420nm范围内，扫描碳点溶液的发射光谱，检测荧光强度，碳点溶液的荧光强度减弱；S5：检测溶液中是否含有SCN‑，淬灭后的碳点溶液加入待检测溶液,在激发波长EX为320nm～420nm时，测定其荧光强度，致使碳点溶液的荧光得到恢复，则含有金属阳离子溶液中含有SCN‑。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于黄山学院，未经黄山学院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910531511.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
