[发明专利]大规模阵列天线测量系统、方法、装置和存储介质有效

专利信息
申请号: 201910531708.2 申请日: 2019-06-19
公开(公告)号: CN110261687B 公开(公告)日: 2021-01-15
发明(设计)人: 赖展军;卜斌龙;冯穗力 申请(专利权)人: 华南理工大学;京信通信技术(广州)有限公司
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 周玲
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请涉及一种大规模阵列天线测量系统、方法、装置和存储介质。大规模阵列天线测量系统包括射频开关模块、矢量网络分析仪和处理设备。矢量网络分析仪的一个测试端口通过射频开关模块连接待测试大规模阵列天线的各射频端口,同时,另一个测试端口连接待测试大规模阵列天线的校准端口。射频开关模块可控制其中一个射频端口与矢量网络分析仪之间形成通路以进行测量;矢量网络分析仪分别测量各个射频端口,得到组合模块的S参数。处理设备处理组合模块的S参数和射频开关模块的S参数,得到待测试大规模阵列天线的S参数。基于此,该测量系统仅采用两端口矢量网络分析仪即可进行测试,能够有效降低大规模阵列天线的测试成本。
搜索关键词: 大规模 阵列 天线 测量 系统 方法 装置 存储 介质
【主权项】:
1.一种大规模阵列天线测量系统,其特征在于,包括:射频开关模块,用于与待测试大规模阵列天线配合形成组合模块;其中,所述射频开关模块包括接入端口和多个切换端口,各所述切换端口用于与所述待测试大规模阵列天线的各射频端口一一对应连接;所述射频开关模块用于控制所述接入端口与其中一个所述切换端口之间形成通路;矢量网络分析仪,用于测量所述组合模块的S参数;所述矢量网络分析仪包含两个测试端口,其中一个所述测试端口连接所述接入端口,另一个所述测试端口用于连接所述待测试大规模阵列天线的校准端口;处理设备,连接所述矢量网络分析仪,用于获取所述射频开关模块的S参数和所述组合模块的S参数,并处理所述组合模块的S参数和所述射频开关模块的S参数,得到所述待测试大规模阵列天线的S参数。
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