[发明专利]半导体装置的制造方法及半导体装置在审
申请号: | 201910540917.3 | 申请日: | 2019-06-21 |
公开(公告)号: | CN110875246A | 公开(公告)日: | 2020-03-10 |
发明(设计)人: | 下沢慎 | 申请(专利权)人: | 富士电机株式会社 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L21/331;H01L23/538;H01L29/739 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 张欣;金玉兰 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供在接触孔形成金属插塞时能防止硅基板被蚀刻的半导体装置的制造方法及半导体装置。半导体装置的制造方法中,在第1导电型的第1半导体层(1)的一个表面形成栅极绝缘膜(8),在第1半导体层的一个表面的表面层形成第2导电型的第2半导体层(5),在栅极绝缘膜上形成栅电极(9),选择性地除去栅极绝缘膜,通过在氧气氛中进行热处理,从而在第2半导体层的表面形成热氧化膜(13),在第2半导体层(5)的表面层选择性地形成第1导电型的第3半导体层(6),在热氧化膜上形成层间绝缘膜,将热氧化膜、层间绝缘膜选择性地开口而形成接触孔,形成覆盖接触孔的势垒金属,通过使用了金属卤化物的CVD法在势垒金属内埋入金属插塞。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造