[发明专利]碲锌镉晶体的电感耦合等离子体刻蚀工艺方法有效

专利信息
申请号: 201910551761.9 申请日: 2019-06-25
公开(公告)号: CN110289215B 公开(公告)日: 2022-02-08
发明(设计)人: 黄健;黄柘源;胡艳;邹天宇;唐可;尚艺;别佳瑛;王林军 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: H01L21/465 分类号: H01L21/465;H01L21/67;H01J37/32
代理公司: 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人: 顾勇华
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种碲锌镉晶体的电感耦合等离子体刻蚀工艺方法,在刻蚀前采用碲锌镉晶体的结构采用衬底‑半导体的组合形式。本发明用SF6和Ar作为电感耦合等离子刻蚀的刻蚀气体,与传统的反应离子刻蚀方式相比,电感耦合等离子刻蚀的离子密度高,刻蚀速率更快,让刻蚀后的碲锌镉晶体的刻蚀形貌有更高的精度,更高的选择比并且刻蚀表面平整光滑。本发明刻蚀的晶体材料对于公共安全、军事、核工业、核医学、科学研究以及航空航天等领域安全监控、辐射防护方面具有重要意义和应用前景。
搜索关键词: 碲锌镉 晶体 电感 耦合 等离子体 刻蚀 工艺 方法
【主权项】:
1.一种碲锌镉晶体的电感耦合等离子体刻蚀工艺方法,其特征在于:包括如下步骤:(1)CdZnTe晶体的机械抛光预处理:在准备好CdZnTe晶体材料之后,采用机械抛光的方法,减小CdZnTe晶体材料表面的粗糙度,用0.05~1.0μm粒度的氧化铝抛光粉配成的抛光液,对CdZnTe晶体材料表面进行抛光1~2h,直到肉眼可见CdZnTe晶体材料表面光滑,且CdZnTe晶体材料表面光线如镜面反射,并且CdZnTe晶体材料表面无颗粒状形态,然后将机械抛光后的CdZnTe晶体材料进行清洗,然后用氮气吹干,得到洁净的CdZnTe晶体材料;(2)CdZnTe晶体的匀胶光刻过程:采用半导体材料的光刻工艺,在所述步骤(1)中制备所得的洁净的CdZnTe晶体材料表面进行光刻;当进行光刻时,准备正胶光刻胶,使用匀胶机涂胶,控制前烘后烘总时间为5~30min,并采用深紫外线曝光,控制曝光时间8~10s,控制显影时间为10‑20s,得到光刻处理的CdZnTe材料,然后进行清洗,取出干燥,得到光刻处理的CdZnTe材料;(3)CdZnTe晶体的电感耦合等离子体刻蚀工艺过程:采用电感耦合等离子体刻蚀刻蚀的方法,在所述步骤(2)光刻后得到的光刻处理的CdZnTe材料表面进行刻蚀,采用SF6和Ar气为刻蚀源气体,控制刻蚀腔环境的真空度不大于1.0×10‑4Pa;控制射频电源频率为13.56MHz,控制刻蚀腔体气压为1~2Pa,控制射频功率RF1为600W,射频功率源RF2为150W,控制调整Ar和SF6不同的气体流量及比例达到不同的刻蚀效果,控制刻蚀时间为30~180min,待电感耦合等离子体刻蚀过程结束后,取出CdZnTe材料,得到薄膜碲锌镉晶体材料器件。
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