[发明专利]嵌入式系统的自动化测试系统及方法在审

专利信息
申请号: 201910551848.6 申请日: 2019-06-25
公开(公告)号: CN110609223A 公开(公告)日: 2019-12-24
发明(设计)人: 王奎;孙德印;韦虎;马全伟;秦建鑫;周大鹏;张君宝;高金锁;梅佳希;陈胤凯;董虎;杨伟;何珊;游源祺 申请(专利权)人: 眸芯科技(上海)有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201210 上海市浦东新区*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了嵌入式系统的自动化测试系统及方法,涉及嵌入式系统测试技术领域。所述系统包括:测试目标;测量前述测试目标的待测量数据的多个测量仪器;测量转换电路,其包括多路开关转换矩阵和控制开关,通过控制开关的通断来连接任意测量仪器和任意测试目标;上位机,用于采集测试项信息,并根据测试项信息控制测量转换电路上的控制开关通断,从而使得相应的测量仪器和测试目标连通;以及控制测量仪器进入测量状态,并控制测试目标进入待测试项运行状态,获取测量数据。本发明具有实现成本低,易于扩展,可以进行大规模自动化测试,有效的降低了人力测试成本及测试时间。
搜索关键词: 测试目标 测量仪器 测试项信息 嵌入式系统 测量数据 控制测量 通断 测量 自动化测试系统 测量转换电路 测试技术领域 测试项运行 自动化测试 测试成本 多路开关 控制测试 转换电路 转换矩阵 上位机 连通 采集 测试
【主权项】:
1.一种嵌入式系统的自动化测试系统,其特征在于包括:/n测试目标;/n多个测量仪器,用以测量前述测试目标的待测量数据;/n测量转换电路,其包括多路开关转换矩阵和控制开关,将所有测量仪器和测试目标同时连接在该转换矩阵上,通过控制开关的通断来连接任意测量仪器和任意测试目标;/n上位机,用于采集测试项信息,并根据测试项信息控制测量转换电路上的控制开关通断,从而使得相应的测量仪器和测试目标连通;以及控制测量仪器进入测量状态,并控制测试目标进入待测试项运行状态,获取测量数据。/n
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