[发明专利]轨道电路测试装置

摘要

本发明涉及一种轨道电路测试装置，包括测试仪和测试笔。测试仪上设有至少一个插接孔，插接孔内间隔排布有至少两组导电座。测试笔包括与插接孔插接配合的插头以及与插头连接的两个笔头；插头包括间隔并排设置的至少两组导体，以及套设在导体外的绝缘套，每一笔头与一组导体电性连接；每一组导体与一组导电座对应插接导通。让测试笔的正负极集成到一体合二为一，可以省去表笔之间的空间，同时插接到测试仪上，节省了效率，另外，可以节省占用的空间，在测试笔的插头上使用绝缘套，即将传统的表笔接头套件进行对调，这样可以做到在不降低导电性能和防护性能的同时，将测试仪上插接孔孔位的直径减小至6mm，比传统的测试仪上的孔位直径减小了4mm。

主权项

1.一种轨道电路测试装置，其特征在于，包括测试仪(1)和测试笔(2)；所述测试仪(1)上设有至少一个插接孔(11)，所述插接孔(11)内间隔排布有至少两组导电座(12)；所述测试笔(2)包括与所述插接孔(11)插接配合的插头(21)以及与所述插头(21)连接的两个笔头(22)；所述插头(21)包括间隔并排设置的至少两组导体(211)，以及套设在所述导体(211)外的绝缘套(212)，每一所述笔头(22)与一组所述导体(211)电性连接；每一组所述导体(211)与一组所述导电座(12)对应插接导通。