[发明专利]一种微推力架精度测量装置及测量方法

摘要

本发明公开了一种微推力架精度测量装置及测量方法，在微推力架的定架上固定一定架加长架，在定架加长架上固定第一测量支架，在第一测量支架上固定一定滑轮，缠绕于定滑轮上的绳索的两端分别接砝码盘和微推力架的动架，通过在砝码盘中加入已知质量的砝码来提供一个已知的推力，利用微推力架对提供的已知推力进行测量，通过比较微推力架测量得到的推力与砝码盘提供的已知推力的大小，可以确定微推力架的测量精度，可以避免由于微推力架的测量精度较低导致推力的测量误差较大致使在后续设计中产生更为严重的不良影响的问题；上述微推力架精度测量装置，结构简单，使用方便，具有极高的普适性，可用于各种类型的微推力架上测量微推力架的测量精度。

主权项

1.一种微推力架精度测量装置，其特征在于，包括：定架加长架，位于所述微推力架的定架的延伸方向上与所述定架固定连接，与所述微推力架的动架相对设置；第一测量支架，在预定位置与所述定架加长架固定连接，顶部具有凹槽；定滑轮，位于所述第一测量支架的凹槽内，中心轴固定于所述第一测量支架上；砝码盘，与缠绕于所述定滑轮的圆周上的绳索的一端固定连接；所述绳索的另一端与所述动架固定连接；通过在所述砝码盘内加入砝码，模拟推力器对所述动架产生推力。