[发明专利]基于FPGA与DSP架构的数字电路测试装置及方法有效
| 申请号： | 201910565651.8 | 申请日： | 2019-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN110196391B | 公开（公告）日： | 2022-04-22 |
| 发明（设计）人： | 关帅;曹彪;李有池;张君利 | 申请（专利权）人： | 中国兵器工业集团第二一四研究所苏州研发中心 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G05B19/042 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人： | 耿英;董建林 |
| 地址： | 215163 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于FPGA与DSP架构的数字电路测试装置及方法，通过软件程序实现DSP芯片和FPGA芯片的主从控制关系，电路系统中的FPGA和DSP芯片中加载程序，能够测试具有FPGA+DSP架构及有多个外部设备的数字电路，并能够验证FPGA与DSP芯片之间的通信、控制功能是否正常，从而完全验证电路系统是否正常工作。本发明能够对具有FPGA+DSP架构及所有相关外部设备的电路进行功能测试，测试结果快速、可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 fpga dsp 架构 数字电路 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于FPGA与DSP架构的数字电路测试装置，其特征是，包括共用电源和时钟模块的DSP与FPGA；FPGA和DSP之间对应连接有控制线、数据线和地址线；FPGA和DSP分别通过一在线调试程序下载口下载调试程序；FPGA经异步串行通信模块通过USB转串口连入上位机；FPGA通过I2C通信模块和/或I/O控制模块连接外设。
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