[发明专利]一种AI加速芯片性能测试方法及其装置

摘要

本发明公开一种AI加速芯片性能测试方法及其装置，通过采样记录芯片内每个模块的各个指令的开始时间和结束时间形成数据记录；再将数据记录整理成列表，进而对列表进行相应的计算处理，以获取芯片各个模块的指令运行时长以及相关参数；此外还可从列表中查找获取指定模块或指定时间的并行指令，并文字打印或图行显示，以供并行分析。本发明不但提供计算部份的性能分析，也提供通信部份与计算部份的并行度分析。本发明可以根据设定条件搜索条件范围内的并行指令，分析指令并行度，从而为芯片性能优化提供更好支持。

主权项

1.一种AI加速芯片性能测试方法，其特征在于：其包括以下步骤：步骤1，开启全局测试，将测试指令分发至AI加速芯片的各个模块；步骤2，分别采样获取各个模块运行的每条指令的开始时间和结束时间形成数据记录上传至外部的性能分析器；步骤3，性能分析器将数据记录按模块整理为列表；步骤4，利用脚本语言对列表进行计算获得每条指令的运行时长；步骤5，分别累计每个模块的所有指令的运行时长获取每个模块运行总时长，用于统计最占操作时间的指令按模块统计指令运行总时长；步骤6，利用脚本语言对列表进行计算获得各个模块内相邻指令的间隔；步骤7，从列表查找需分析的指定范围内的并行指令运行结果；步骤8，输出显示查找到的并行指令的运行结果。