[发明专利]基于电子束荷电效应的有机质成熟度表征方法及系统在审
申请号: | 201910567743.X | 申请日: | 2019-06-27 |
公开(公告)号: | CN112147168A | 公开(公告)日: | 2020-12-29 |
发明(设计)人: | 鲍芳;张庆珍;芮晓庆;俞凌杰;范明 | 申请(专利权)人: | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 |
主分类号: | G01N23/2251 | 分类号: | G01N23/2251;G01N23/2202 |
代理公司: | 北京思创毕升专利事务所 11218 | 代理人: | 孙向民;廉莉莉 |
地址: | 100027 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 公开了一种基于电子束荷电效应的有机质成熟度表征方法及系统。该方法可以包括:选取多个不同成熟度的岩心样品,对岩心样品进行加工制备,获得多个标样;计算每个标样的电子束驻留时间,测量每个标样的镜质组反射率;根据每个标样对应的电子束驻留时间与镜质组反射率,绘制电子束驻留时间‑镜质组反射率交会图;根据待测样品的电子束驻留时间与电子束驻留时间‑镜质组反射率交会图,计算待测样品的镜质组反射率,实现有机质成熟度表征。本发明通过电子束荷电效应能有效表征有机质的成熟度,采用扫描电镜进行观察,准确区分有机质的组成和观察有机质的表面形貌特征,具有更为广泛的应用。 | ||
搜索关键词: | 基于 电子束 效应 有机质 成熟度 表征 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院,未经中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910567743.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种定位方法及系统
- 下一篇:一种龙伯透镜阵列及卫星天线