[发明专利]基于电子束荷电效应的有机质成熟度表征方法及系统在审

专利信息
申请号: 201910567743.X 申请日: 2019-06-27
公开(公告)号: CN112147168A 公开(公告)日: 2020-12-29
发明(设计)人: 鲍芳;张庆珍;芮晓庆;俞凌杰;范明 申请(专利权)人: 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院
主分类号: G01N23/2251 分类号: G01N23/2251;G01N23/2202
代理公司: 北京思创毕升专利事务所 11218 代理人: 孙向民;廉莉莉
地址: 100027 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 公开了一种基于电子束荷电效应的有机质成熟度表征方法及系统。该方法可以包括:选取多个不同成熟度的岩心样品,对岩心样品进行加工制备,获得多个标样;计算每个标样的电子束驻留时间,测量每个标样的镜质组反射率;根据每个标样对应的电子束驻留时间与镜质组反射率,绘制电子束驻留时间‑镜质组反射率交会图;根据待测样品的电子束驻留时间与电子束驻留时间‑镜质组反射率交会图,计算待测样品的镜质组反射率,实现有机质成熟度表征。本发明通过电子束荷电效应能有效表征有机质的成熟度,采用扫描电镜进行观察,准确区分有机质的组成和观察有机质的表面形貌特征,具有更为广泛的应用。
搜索关键词: 基于 电子束 效应 有机质 成熟度 表征 方法 系统
【主权项】:
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