[发明专利]一种用于结晶过程的晶种制备方法

摘要

本发明涉及一种用于结晶过程的晶种制备方法，尤其涉及一种通过多种工序联合制备晶种的方法。该方法由重结晶、固液分离、干燥、研磨、筛分、洗涤等装置组成。该发明通过联合重结晶、固液分离等工序可以实现在原料晶体不满足纯度和晶型条件下获得高质量的晶种，并通过洗涤法去除研磨筛分后晶种中的细晶，缩小晶种粒度分布，提高晶种质量，最后通过过滤、干燥获得了高质量的干晶种。本发明是一种系统完整的晶种制备方法，不仅能够去除晶种中的细晶，获得窄粒度分布的晶种，还可以降低晶种中杂质含量，提高晶种纯度和质量，有利于提高结晶产品质量，降低下游工序处理难度。

主权项

1.一种用于结晶过程的晶种制备方法，该方法主要包括如下装置：重结晶提纯装置(Rc)、固液分离装置(Se)、干燥装置(D)、研磨装置(M)、筛分装置(SI)、洗涤装置(W)、过滤装置(F)及再干燥装置(Rd)。该方法的特征包括如下步骤：(1)首先判断原料晶体是否满足晶体纯度、晶型要求，若不满足要求，进行步骤(2)；若满足要求，直接进行步骤(3)；(2)重结晶提纯：通过重结晶提纯装置(Rc)、固液分离装置(Se)及干燥装置(D)对原料晶体进行提纯、干燥；(3)研磨：将满足纯度、晶型要求的晶体经研磨装置(M)进行研磨，获得微米尺寸的晶种，晶种尺寸在1‑500μm之间；(4)筛分：将步骤(3)研磨后的晶种经过筛分装置(SI)进行筛分；(5)洗涤：将步骤(4)筛分后的晶种经洗涤装置(W)进行洗涤，洗涤溶剂为与晶体结晶为同一溶剂，且保证细晶含量≤5％；(6)过滤：将步骤(5)洗涤后的晶种悬浮液经过滤装置(F)过滤后，得到湿晶种；(7)干燥：将步骤(6)得到的湿晶种经再干燥装置(Rd)进行干燥后，得到干晶种；(8)最后分析步骤(7)干燥后的晶种是否满足质量、粒度分布要求，如满足要求，即得到了期望的晶种；如不满足质量、粒度分布要求，则转到步骤(5)，重新进行晶体的研磨、筛分、洗涤、过滤、干燥工序，直到满足晶种质量、粒度分布要求。