[发明专利]调试半导体装置的方法及系统在审
| 申请号： | 201910578622.5 | 申请日： | 2019-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN110659164A | 公开（公告）日： | 2020-01-07 |
| 发明（设计）人： | N·格勒斯 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/263 |
| 代理公司： | 11287 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 王龙 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本申请案涉及一种调试半导体装置的方法及系统。本文揭示用于使用非测试引脚调试在裸片上实施的装置的装置及技术。用至少部分地在裸片上实施的存储器装置接收启用调试操作模式的指令。响应于接收所述指令，修改所述裸片的第一非测试引脚的功能性，以使调试数据能够通过所述裸片的所述第一非测试引脚发射到所述裸片外部的调试组件。使用在所述裸片的第二非测试引脚处接收的信号建立调试时钟信号。使用所述裸片的所述第一及第二非测试引脚在所述裸片与所述调试组件之间交换包含所述调试数据的信息。 | ||
| 搜索关键词： | 裸片 测试引脚 调试 调试数据 调试组件 指令 半导体装置 存储器装置 操作模式 时钟信号 信号建立 申请案 发射 响应 外部 交换 | ||
【主权项】：
1.一种方法，其包括：/n用至少部分在裸片上实施的存储器装置接收指令以启用调试操作模式；以及/n响应于接收所述指令：/n修改所述裸片的第一非测试引脚的功能性，以使调试数据能够通过所述裸片的所述第一非测试引脚发射到所述裸片外部的调试组件；/n使用在所述裸片的第二非测试引脚处接收的信号建立调试时钟信号；以及/n使用所述裸片的所述第一及第二非测试引脚在所述裸片与所述调试组件之间交换包含所述调试数据的信息。/n
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