[发明专利]一种纵磨外圆轴向表面粗糙度确定方法、装置及设备有效
| 申请号： | 201910579319.7 | 申请日： | 2019-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN110370092B | 公开（公告）日： | 2020-06-26 |
| 发明（设计）人： | 刘金武;王平;张梁;易子超 | 申请（专利权）人： | 厦门理工学院 |
| 主分类号： | B24B1/00 | 分类号： | B24B1/00 |
| 代理公司： | 厦门智慧呈睿知识产权代理事务所(普通合伙) 35222 | 代理人： | 陈槐萱 |
| 地址： | 361024 福*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种纵磨外圆轴向表面粗糙度确定方法，包括：根据纵磨砂轮的参数、根据纵磨外圆的加工工艺参数，建立纵磨外圆加工结构模型；根据所述纵磨外圆加工结构模型，获取所述纵磨砂轮的磨粒分布图及磨粒参数；根据所述磨粒分布图及磨粒参数，建立磨粒轨迹螺纹线；根据所述磨粒轨迹螺纹线，获取纵磨外圆轴向表面粗糙度。基于本发明提供了一种纵磨外圆轴向表面粗糙度确定方法、装置及设备，能直观的反映出纵磨砂轮轴向表面的粗糙度，以及粗糙度与纵磨砂轮的参数、加工工艺参数的之间的直接影响，便于磨削精度和效率的提高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 纵磨外圆 轴向 表面 粗糙 确定 方法 装置 设备 | ||
【主权项】：
1.一种纵磨外圆轴向表面粗糙度确定方法，其特征在于，包括：根据纵磨砂轮的参数、根据纵磨外圆的加工工艺参数，建立纵磨外圆加工结构模型；根据所述纵磨外圆加工结构模型，获取所述纵磨砂轮的磨粒分布图及磨粒参数；根据所述磨粒分布图及磨粒参数，建立磨粒轨迹螺纹线；根据所述磨粒轨迹螺纹线，获取纵磨外圆轴向表面粗糙度。
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