[发明专利]基于光致变色效应的紫外线辐射累计计量方法在审

专利信息
申请号: 201910589122.1 申请日: 2019-07-02
公开(公告)号: CN110319929A 公开(公告)日: 2019-10-11
发明(设计)人: 廖宇龙;李佳宴;李元勋;陈雪;陈文豪;陈振威;向全军 申请(专利权)人: 电子科技大学;东莞豪泽电子科技有限公司
主分类号: G01J1/50 分类号: G01J1/50;C25D11/26
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 吴姗霖
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种基于光致变色效应的紫外线辐射累计计量方法,属于光电信息材料及器件技术领域。首先,制备无定型二氧化钛纳米管阵列薄膜作为显色薄膜,取N个相同条件下制备的显色薄膜,在相同功率的紫外光下照射不同的时间,得到N个显示不同颜色的比色卡;然后计算得到对应的辐射量,得到颜色与辐射量之间的对应关系;最后,将同一批次的无定型二氧化钛纳米管阵列薄膜在待测光下照射一定时间,得到的薄膜与比色卡进行对比,即可得到待测光中紫外线的累计辐射量。本发明实现了环境中紫外线的累计照射量的测试,且方法操作简便、不需要电源、可循环使用、便携且成本低,适用范围广。
搜索关键词: 辐射量 薄膜 纳米管阵列薄膜 无定型二氧化钛 光致变色效应 紫外线辐射 比色卡 紫外线 测光 显色 制备 照射 计量 光电信息材料 器件技术领域 紫外光 可循环 照射量 便携 电源 测试
【主权项】:
1.应用于紫外线辐射累计计量的光致变色材料,其特征在于,所述光致变色材料为无定型二氧化钛纳米管阵列薄膜。
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