[发明专利]一种掺杂氮硅化物薄膜钝化接触结构的制备方法及其应用有效

专利信息
申请号: 201910594529.3 申请日: 2019-07-03
公开(公告)号: CN112186067B 公开(公告)日: 2022-05-31
发明(设计)人: 曾俞衡;叶继春;廖明墩;闫宝杰;杨清;王志学;郭雪琪;芮哲 申请(专利权)人: 中国科学院宁波材料技术与工程研究所
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/068;H01L31/0216
代理公司: 宁波甬致专利代理有限公司 33228 代理人: 张鸿飞
地址: 315201 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供一种掺杂氮硅化物薄膜钝化接触结构的制备方法及其应用,包括以下步骤:首先在硅片表面生长一层氧化硅层,然后在所述氧化硅层表面上沉积一层或多层掺杂的氮硅化物薄膜,并进行780‑1100oC的高温晶化处理,形成隧穿氧化硅钝化接触结构;本发明采用掺杂的氮硅化物薄膜取代掺杂多晶硅薄膜,用于TOPCon结构,不仅可以保持TOPCon结构优异的表面钝化性能和接触性能,而且具有若干多晶硅薄膜所不具备的特殊优势。
搜索关键词: 一种 掺杂 氮硅化物 薄膜 钝化 接触 结构 制备 方法 及其 应用
【主权项】:
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