[发明专利]一种基于电扫天线的太赫兹紧缩场测试系统在审
| 申请号： | 201910596911.8 | 申请日： | 2019-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN110221131A | 公开（公告）日： | 2019-09-10 |
| 发明（设计）人： | 张宇 | 申请（专利权）人： | 苏州特拉芯光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;G01S7/40 |
| 代理公司： | 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 11427 | 代理人： | 张丽 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市高*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于电扫天线的太赫兹紧缩场测试系统，包括：暗室、待测目标、固定装置、矢量网络分析仪、太赫兹矢网扩展模块、计算机、电扫天线和馈电模块，所述的电扫天线、馈电模块均位于暗室的内部，所述的电扫天线与太赫兹矢网扩展模块之间通过馈电模块控制连接。通过上述方式，一种小型化、快速便捷、低成本太赫兹紧缩场可获得待测目标的雷达反射截面或者待测天线的远场方向图数据，采用了全新的有源电扫天线取代原有的发射面或全息光栅，降低了系统成本、减少了使用空间同时提供小型化紧缩场快速测试的能力。 | ||
| 搜索关键词： | 天线 紧缩场 馈电模块 测试系统 待测目标 扩展模块 暗室 矢量网络分析仪 雷达反射截面 远场方向图 固定装置 控制连接 快速测试 全息光栅 使用空间 系统成本 低成本 发射面 原有的 计算机 | ||
【主权项】：
1.一种基于电扫天线的太赫兹紧缩场测试系统，包括：暗室（1）、待测目标（2）、固定装置（8）、矢量网络分析仪（6）、太赫兹矢网扩展模块（5）和计算机（7），所述的暗室（1）为太赫兹暗室且具备内部空间，所述待测目标（2）、固定装置（8）均位于暗室（1）的内部，所述的待测目标（2）位于固定装置（8）的顶平面上方，所述的矢量网络分析仪（6）发出毫米波信号，所述的计算机（7）、矢量网络分析仪（6）、太赫兹矢网扩展模块（5）均位于暗室（1）的外部，所述的计算机（7）之间电性连接，所述的计算机（7）还与矢量网络分析仪（6）、太赫兹矢网扩展模块（5）之间依次顺序连接；其特征在于，所述的基于电扫天线的太赫兹紧缩场测试系统还包含有电扫天线（3）和馈电模块（4），所述的电扫天线（3）、馈电模块（4）均位于暗室（1）的内部，所述的电扫天线（3）与太赫兹矢网扩展模块（5）之间通过馈电模块（4）控制连接，其中，所述的矢量网络分析仪（6）发出毫米波信号后，经太赫兹矢网扩展模块（5）放大倍频到太赫兹频段，得到太赫兹信号，所述的太赫兹信号通过电扫天线（3）后转换为自由空间平面波；自由空间平面波照射到待测目标（2），经待测目标（2）反射后再原路返回到电扫天线（3），电扫天线（3）接收后还原为电流信号，电流信号经太赫兹矢网扩展模块（5）下变频为毫米波信号，毫米波信号返回矢量网络分析仪（6），矢量网络分析仪（6）计算参数并存储于计算机（7）。
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