[发明专利]一种适用于嵌入式系统的单元测试框架在审

专利信息
申请号: 201910599425.1 申请日: 2019-07-04
公开(公告)号: CN110287126A 公开(公告)日: 2019-09-27
发明(设计)人: 熊谱翔;朱天龙;赵军涛 申请(专利权)人: 上海睿赛德电子科技有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 成都顶峰专利事务所(普通合伙) 51224 代理人: 王霞
地址: 200000 上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种适用于嵌入式系统的单元测试框架,用于解决当前嵌入式领域应用程序标准化测试的问题。所述单元测试框架包括标准测试接口模块、测试用例导出模块、测试命令解析模块、测试单元执行模块、日志模块和测试结果处理模块。其中测试用例导出模块将测试用例程序抽象为测试初始化模块、测试清理模块和测试用例程序入口模块,并利用链接器特性将测试用例程序导出到程序镜像中指定的代码段。所述单元测试框架使用标准C语言编写,实现了通用测试接口,降低了测试用例程序编写难度,提高了代码复用度,缩短了开发周期,适用于所有的嵌入式操作系统,并可以移植到没有使用嵌入式系统的裸机系统中使用。
搜索关键词: 测试用例程序 单元测试框架 嵌入式系统 测试 导出模块 测试结果处理模块 嵌入式操作系统 标准测试接口 通用测试接口 初始化模块 嵌入式领域 测试单元 测试命令 代码复用 解析模块 开发周期 日志模块 入口模块 应用程序 代码段 链接器 导出 标准化 抽象 移植
【主权项】:
1.一种适用于嵌入式系统的单元测试框架,其特征在于,包括:标准测试接口模块,用于编写风格统一的测试用例程序;测试用例导出模块,用于将测试用例程序抽象为特定的数据结构,存储在可执行程序镜像中;测试命令解析模块,用于手动指定一个或多个待测试的测试用例程序;测试单元执行模块,定义了测试用例和测试单元两层结构;日志模块,用于统一日志输出风格;以及测试结果处理模块,用于实时记录每一个测试成功或失败的测试项。
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