[发明专利]一种测试装置及晶片自动测试机在审
| 申请号： | 201910600069.0 | 申请日： | 2019-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN110320462A | 公开（公告）日： | 2019-10-11 |
| 发明（设计）人： | 范群意 | 申请（专利权）人： | 范群意 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 胡彬 |
| 地址： | 518049 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试装置及晶片自动测试机，属于晶片测试技术领域。该测试装置包括测试台，还包括载台和转动设于所述载台上的旋转工作台，所述测试台设于所述旋转工作台的上部；所述旋转工作台底部设有调节柱，所述调节柱贯穿所述载台并与所述载台转动连接；所述调节柱的底部设有调节杆，推动所述调节杆，所述调节杆能够带动所述调节柱和所述旋转工作台转动。一种晶片自动测试机，包括上述的测试装置。本发明通过将测试台设于旋转工作台上，将旋转工作台与载台转动连接实现测试台的在水平面的位置可调。 | ||
| 搜索关键词： | 旋转工作台 测试装置 测试台 调节柱 自动测试机 调节杆 转动连接 晶片 载台 转动 晶片测试 位置可调 种晶 贯穿 | ||
【主权项】：
1.一种测试装置，包括测试台(431)，其特征在于，还包括载台(432)和转动设于所述载台(432)上的旋转工作台(401)，所述测试台(431)设于所述旋转工作台(401)的上部；所述旋转工作台(401)底部设有调节柱(403)，所述调节柱(403)贯穿所述载台(432)并与所述载台(432)转动连接；所述调节柱(403)的底部设有调节杆(404)，推动所述调节杆(404)，所述调节杆(404)能够带动所述调节柱(403)和所述旋转工作台(401)转动。
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