[发明专利]一种由多光谱地表反射率推演高光谱地表反射率的方法有效
| 申请号： | 201910602251.X | 申请日： | 2019-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN110411565B | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 李祥震;邱刚刚;贺柏根;吕文发;窦新民;赵金鹏;谭壮 | 申请（专利权）人： | 中国船舶重工集团公司第七一六研究所 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人： | 汪清 |
| 地址： | 222061 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出了一种由多光谱地表反射率推演高光谱地表反射率的方法，首先获取辐射校正场高光谱地表反射率参考曲线：通过波段式对地辐射计与光谱仪同步观测同一片区域，将光谱仪获取的平均高光谱地表反射率作为参考曲线；然后校正波段式对地辐射计与光谱仪之间的系统偏差获得校正系数；最后计算卫星过顶时刻的高光谱地表反射率：利用相邻两个波段的地表反射率与高光谱地表反射率参考曲线带内地表反射率之间的比例关系，确立相邻波段之间任意波长处的地表反射率；在多光谱地表反射率不能覆盖的区域，利用距离所求波长最近的多光谱地表反射率比例对高光谱地表反射率参考曲线进行缩放，确定地表反射率；本发明提高了在轨卫星遥感器辐射定标的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光谱 地表 反射率 推演 方法 | ||
【主权项】：
1.一种由多光谱地表反射率推演高光谱地表反射率的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、获取辐射校正场高光谱地表反射率参考曲线：通过波段式对地辐射计与光谱仪同步观测同一片区域，将光谱仪获取的辐射校正场平均高光谱地表反射率ρref作为参考曲线；步骤2、校正波段式对地辐射计与光谱仪之间的系统偏差，获得校正系数；步骤3、计算卫星过顶时刻的高光谱地表反射率：步骤3.1、利用相邻两个波段的地表反射率与高光谱地表反射率参考曲线带内地表反射率之间的比例关系，确立相邻波段之间任意波长处的地表反射率；步骤3.2、在多光谱地表反射率不能覆盖的区域，采用就近原则，利用距离所求波长最近的多光谱地表反射率比例对高光谱地表反射率参考曲线进行缩放，确定地表反射率。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国船舶重工集团公司第七一六研究所，未经中国船舶重工集团公司第七一六研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910602251.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
