[发明专利]测量方法、测量装置和程序有效

专利信息
申请号: 201910603202.8 申请日: 2019-07-05
公开(公告)号: CN110686661B 公开(公告)日: 2023-06-30
发明(设计)人: 佐佐木阳 申请(专利权)人: 株式会社拓普康
主分类号: G01C15/10 分类号: G01C15/10;G01C15/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 王岳;闫小龙
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及测量方法、测量装置和程序。本发明将利用测量装置的目标的自动检测自动化并将作业简化。一种测量方法,利用测量装置(400)来进行整周反射棱镜(102)和具备在铅垂方向上排列的码显示的整周条形码显示部(103)的检测和识别,所述测量装置(400)具备水平旋转并进行沿着铅垂面的激光扫描的激光扫描仪,其中,所述测量方法具有:使测量装置(400)水平旋转并沿着铅垂面照射激光扫描光来进行激光扫描的步骤;以及基于所述激光扫描光的反射光来检测整周条形码显示部(103)码显示的步骤。
搜索关键词: 测量方法 测量 装置 程序
【主权项】:
1.一种测量方法,利用测量装置来进行目标装置的检测和识别,所述测量装置具备水平旋转并进行沿着铅垂面的激光扫描的激光扫描仪,所述目标装置具备整周反射棱镜和在铅垂方向上排列的码显示,其中,所述测量方法具有:/n使所述测量装置水平旋转并沿着铅垂面照射激光扫描光来进行激光扫描的步骤;以及/n基于所述激光扫描光的反射光来检测所述码显示的步骤。/n
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