[发明专利]一种平面检测方法、计算设备以及电路系统有效
| 申请号： | 201910605510.4 | 申请日： | 2019-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN110458805B | 公开（公告）日： | 2022-05-13 |
| 发明（设计）人： | 何凯文;李阳;刘昆 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/136;G06V10/762;G06V10/82;G06T17/00 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 冯艳莲 |
| 地址： | 518129 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种平面检测方法、计算设备以及电路系统，该方法包括：计算设备获取待处理图像数据，然后对待处理图像数据进行分割，得到N个子图像数据，其中，N为大于1的整数。之后，确定N个子图像数据中的至少一个子图像数据对应的点云信息，根据N个子图像数据中的至少一个子图像数据对应的点云信息，对N个子图像数据对应的点云进行聚类处理，得到K个粗提取平面，对K个粗提取平面进行优化处理，得到L个优化后平面，其中K为不大于N的正整数，L为不大于K的正整数。这样可以使得计算设备能够检测到图像数据中的不止一个平面。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 平面 检测 方法 计算 设备 以及 电路 系统 | ||
【主权项】：
1.一种平面检测方法，应用于计算设备，其特征在于，所述方法包括：/n获取待处理图像数据；/n对所述待处理图像数据进行分割，得到N个子图像数据，所述N为大于1的整数；/n确定所述N个子图像数据中的至少一个子图像数据对应的点云信息；/n根据所述N个子图像数据中的所述至少一个子图像数据对应的点云信息，对所述N个子图像数据对应的点云进行聚类处理，得到K个粗提取平面；所述K为不大于所述N的正整数；/n对所述K个粗提取平面进行优化处理，得到L个优化后平面；所述L为不大于所述K的正整数。/n
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