[发明专利]X射线成像设备的自动曝光参数的计算方法及装置有效
| 申请号： | 201910617645.2 | 申请日： | 2019-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN110269635B | 公开（公告）日： | 2023-05-02 |
| 发明（设计）人： | 邹鲁民 | 申请（专利权）人： | 北京友通上昊科技有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 101111 北京市大兴区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种X射线成像设备的自动曝光参数的计算方法及装置，该方法包括：对处理对象的拍摄部位进行第一次预曝光，获取第一图像以及所述第一图像的第一ROI区信息；根据所述第一ROI区信息，对所述拍摄部位进行第二次预曝光，获取第二图像；对所述第一图像和第二图像进行能量减影，确定特征图像，以确定部位类别；根据所述第一ROI区信息，并对所述拍摄部位进行主曝光，确定第三图像；根据所述部位类别、特征图像和第一ROI区信息，确定所述第三图像的处理参数。本发明基于实际图像内容的计算，获取曝光参数，对于各种类别图像均可获得较好的处理结果，能有效提高曝光参数的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 成像 设备 自动 曝光 参数 计算方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种X射线成像设备的自动曝光参数的计算方法，包括：对处理对象的拍摄部位进行第一次预曝光，获取第一图像以及所述第一图像的第一ROI区信息；根据所述第一ROI区信息，对所述拍摄部位进行第二次预曝光，获取第二图像；对所述第一图像和第二图像进行能量减影，确定特征图像，以确定部位类别；根据所述第一ROI区信息，并对所述拍摄部位进行主曝光，确定第三图像；根据所述部位类别、特征图像和第一ROI区信息，确定所述第三图像的处理参数。
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