[发明专利]带有应力平衡层的大规模铟镓砷焦平面探测器及制备方法有效
申请号: | 201910618698.6 | 申请日: | 2019-07-10 |
公开(公告)号: | CN110444607B | 公开(公告)日: | 2021-01-01 |
发明(设计)人: | 程吉凤;李雪;邵秀梅;邓双燕;陈郁;杨波;马英杰;龚海梅 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
主分类号: | H01L31/02 | 分类号: | H01L31/02;H01L31/0224;H01L31/0216;H01L31/105;H01L31/18 |
代理公司: | 上海沪慧律师事务所 31311 | 代理人: | 郭英 |
地址: | 200083 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种带有应力平衡层的大规模铟镓砷焦平面探测器及制备方法,所述的大规模铟镓砷焦平面探测器在半绝缘InP衬底的背面有应力平衡层。探测器制备的具体步骤如下:1)淀积氮化硅刻蚀掩膜,2)台面刻蚀,3)开N槽,4)生长P电极,5)快速热退火,6)淀积氮化硅钝化膜,7)开P、N电极孔,8)生长加厚电极,9)生长应力平衡层,10)金属化并生长铟柱,11)铟柱剥离并划片。本发明的优点在于:大面阵焦平面探测器平面度好,铟柱形貌更均一,器件耦合连通率高,制备工艺更简单,器件成品率高。 | ||
搜索关键词: | 带有 应力 平衡 大规模 铟镓砷焦 平面 探测器 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种带有应力平衡层的大规模铟镓砷焦平面探测器,所述的探测器结构为:在半绝缘InP衬底(1)上,依次为N+型InP层(2)、组分渐变的N+型InxAl1‑xAs缓冲层(3)、InxGa1‑xAs吸收层(4)、P+型InxAl1‑xAs帽层(5)、氮化硅SiNx钝化膜(6)、P电极(7)、加厚电极(8)、UBM Au电极(9)、铟柱(10);在半绝缘InP衬底(1)的背面为应力平衡层(11);其特征在于:所述的大规模铟镓砷焦平面探测器在半绝缘InP衬底(1)的背面有应力平衡层(11);所述的应力平衡层(11)为双层SiNx复合膜,第一层为厚度d1的低应力膜;第二层为厚度d2的高应力膜;d1和d2由长膜前芯片平面度PV值决定,当0≤PV≤10μm时,d1为
d2为
当10≤PV≤20μm时,d1为
d2为
当20≤PV≤30μm时,d1为
d2为
当30≤PV≤40μm时,d1为
d2为
当40≤PV≤50μm时,d1为
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
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H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的