[发明专利]一种开关测试设备电路及开关测试设备在审
申请号: | 201910624963.1 | 申请日: | 2019-07-11 |
公开(公告)号: | CN110412455A | 公开(公告)日: | 2019-11-05 |
发明(设计)人: | 周志峰;贾强汉;朱益飞;涂婷 | 申请(专利权)人: | 上海工程技术大学 |
主分类号: | G01R31/327 | 分类号: | G01R31/327;G01R19/00 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 宣慧兰 |
地址: | 201620 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种开关测试设备电路,包括待测开关压降采集电路,所述待测开关压降采集电路包括依次连接的电流采集单元(2)、电压比较单元(3)、光电继电器单元(4)、A/D采样单元(6)和控制器,所述电流采集单元(2)采集待测开关所在回路(1)的电流,电压比较单元(3)的输出控制光电继电器单元(4)的开闭,继而控制A/D采样单元(6)和控制器的通断。与现有技术相比,设有压降采集电路,可以对待测开关两端压降进行采集,且保证A/D采样单元(6)不受过高输入电压的损害。 | ||
搜索关键词: | 压降 开关测试设备 采集电路 电流采集单元 电压比较单元 光电继电器 控制器 电路 采集 高输入电压 输出控制 依次连接 开闭 通断 损害 保证 | ||
【主权项】:
1.一种开关测试设备电路,其特征在于,包括待测开关压降采集电路,所述待测开关压降采集电路包括依次连接的电流采集单元(2)、电压比较单元(3)、光电继电器单元(4)、A/D采样单元(6)和控制器,所述电流采集单元(2)采集待测开关所在回路(1)的电流,电压比较单元(3)的输出控制光电继电器单元(4)的开闭,继而控制A/D采样单元(6)和控制器的通断。
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