[发明专利]一种定量评价磷化膜孔隙率的电化学测试方法有效
| 申请号： | 201910625599.0 | 申请日： | 2019-07-11 |
| 公开（公告）号： | CN110361313B | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 郭国才 | 申请（专利权）人： | 上海应用技术大学 |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 林君如 |
| 地址： | 201418 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： |
本发明涉及一种定量评价磷化膜孔隙率的电化学测试方法，具体步骤如下：(1)将磷化膜试样置于电解液中进行电化学交流阻抗试验，得到Nyquist图和Bode图；(2)利用步骤(1)得到的Nyquist图拟合出基体金属低碳软钢试样在该电解质溶液中的 |
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| 搜索关键词： | 一种 定量 评价 磷化 孔隙率 电化学 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种定量评价磷化膜孔隙率的电化学测试方法，其特征在于，具体步骤如下：(1)将磷化膜试样置于电解液中进行电化学交流阻抗试验，得到Nyquist图和Bode图；(2)利用步骤(1)得到的Nyquist图拟合出基体金属低碳软钢试样在该电解质溶液中的![]()
以及磷化膜试样在电解液中的界面微分电容Cdl；(3)通过步骤(1)得到的Bode图拟合出磷化膜在交流阻抗测试频率范围内从高频至穿透相位或穿透频率所对应的实验频率点数N'；(4)根据步骤(2)和(3)所得参数计算孔隙率，评价孔隙率的计算公式如下：![]()
其中，Ad‑孔隙率，![]()
‑基体金属在电解液中的微分电容(μF)，Cdl‑磷化膜在电解液中的微分电容(μF)，K‑比例系数![]()
其中N'是磷化膜交流阻抗测试频率范围内从高频至穿透相位或穿透频率所对应的实验频率点数，No是磷化膜交流阻抗测试频率范围内总的实验频率点数。
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