[发明专利]热力学解谱误差分析方法、装置、电子设备、及存储介质有效
| 申请号： | 201910628819.5 | 申请日： | 2019-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN110364229B | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 葛秀杰;葛广路;李德兴 | 申请（专利权）人： | 国家纳米科学中心 |
| 主分类号： | G16C20/10 | 分类号： | G16C20/10 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 100190 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开实施例公开了一种热力学解谱误差分析方法、装置、电子设备、及存储介质，方法包括：基于多次实验确定各次进样的体积的概率密度函数、确定滴定剂A的初始浓度的概率密度函数、确定被滴物B的初始浓度的概率密度函数、以及确定各次进样的背景噪声的概率密度函数；根据所确定的概率密度函数进行抽样作为一次模拟实验的实验数据，根据抽样结果通过用于拟合的设定函数进行热力学参数迭代拟合，根据迭代拟合结果确定本次抽样的热力学参数；重复所述抽样和计算的步骤进行多次抽样和计算获取多组热力学参数，对获得的多组热力学参数进行统计分析获取热力学参数的频率分布信息。本公开实施例的技术方案能够获取热力学解谱结果的误差分布与大小。 | ||
| 搜索关键词： | 热力学 误差 分析 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种热力学解谱误差分析方法，其特征在于，包括：基于多次实验确定各次进样的体积的概率密度函数、确定滴定剂A的初始浓度的概率密度函数、确定被滴物B的初始浓度的概率密度函数、以及确定各次进样的背景噪声的概率密度函数；根据所确定的概率密度函数进行抽样作为一次模拟实验的实验数据，根据抽样结果确定所述模拟实验的体积数组Vinj、背景噪声数组Qb、A的浓度数组X、B的浓度数组M；根据理论热力学参数、反应池的有效体积VC、所述模拟实验的体积数组Vinj、背景噪声数组Qb、A的浓度数组X、以及B的浓度数组M，获取所述模拟实验的反应热数组Q；根据所述模拟实验的浓度数组X、浓度数组M、以及反应热数组Q的元素值，分别以所述模拟实验的各次进样的滴定剂A的浓度和被滴物B的浓度为输入，以各次进样的反应热为输出，通过用于拟合的设定函数进行热力学参数迭代拟合，根据迭代拟合结果确定本次抽样的热力学参数；重复所述抽样和计算的步骤进行多次抽样和计算获取多组热力学参数，对获得的多组热力学参数进行统计分析获取所述热力学参数的频率分布信息。
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