[发明专利]一种基于像素电离室的束斑动态监测方法及系统

摘要

本发明公开了一种基于像素电离室的束斑动态监测方法及系统，在扫描层切换的时间间隙运行改进的高斯曲面拟合算法精确测量束斑位置和尺寸，在扫描层内部用快速的统计学方法监测束斑的变化。本发明摒弃传统基于图像的边缘检测、椭圆拟合来定位束斑中心的方法，考虑到实际束流会发生旋转、不同方向的伸缩等异常情况，采用改进的高斯曲面拟合算法，增加拟合参数θ，完整描述椭圆形束斑的五个参数，束斑监测的准确性更高。同时，改进的高斯曲面拟合算法将拟合数据的门限值设置成门限值区间，可以通过调整门限值大小控制拟合数据点数在一个固定值附近，保证各算法的运行时间可准确计算。

主权项

1.一种基于像素电离室的束斑动态监测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1、获取当前扫描层初始时刻像素电离室的每个像素块的电流积分值，以当前扫描层最大电流积分值V_max为基准，设置数据门限值区间(w₁*V_max,w₂*V_max)和拟合数据点数N，其中w₁和w₂分别为门限值区间的上限和下限；步骤S2、在数据门限值区间内线性调整数据门限值w，以得到最接近N的拟合数据点数N₀，如果N₀≠N，判断w是否处于门限值区间(w₁,w₂)的上下限，如果处于下限w₁则发出束斑尺寸过大预警，如果处于上限w₂则发出束斑尺寸过小预警，在门限值区间(w₁,w₂)内部则不做处理；步骤S3、运行改进的高斯曲面拟合算法，得到束斑参数，判断束斑位置或者尺寸与预设值的差的绝对值是否超过容忍范围，如果超过容忍范围则发出束斑位置或者大小不正确预警；步骤S4、对当前扫描层内所有扫描点进行层内束斑动态监测；步骤S5、当接收到扫描层切换的命令时，重复步骤S1～S4。