[发明专利]三维半导体存储器件在审

专利信息
申请号: 201910639467.3 申请日: 2019-07-16
公开(公告)号: CN110729304A 公开(公告)日: 2020-01-24
发明(设计)人: 李奉镕;金泰勋;裵敏敬 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/1157 分类号: H01L27/1157;H01L27/11582;H01L29/792
代理公司: 11105 北京市柳沈律师事务所 代理人: 张波
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 一种三维(3D)半导体存储器件可以包括:堆叠结构,包括顺序地堆叠在衬底上的栅电极;以及穿透堆叠结构的垂直沟道。栅电极可以包括顺序地堆叠在衬底上的地选择栅电极、单元栅电极、串选择栅电极和擦除栅电极。
搜索关键词: 堆叠结构 栅电极 衬底 堆叠 半导体存储器件 串选择栅电极 单元栅电极 选择栅电极 垂直沟道 擦除栅 电极 穿透 三维
【主权项】:
1.一种三维(3D)半导体存储器件,包括:/n堆叠结构,包括顺序地堆叠在衬底上的栅电极;以及/n穿透所述堆叠结构的垂直沟道,/n其中所述栅电极包括顺序地堆叠在所述衬底上的地选择栅电极、单元栅电极、串选择栅电极和第一擦除栅电极。/n
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