[发明专利]一种学业成长曲线测试方法和系统在审
| 申请号： | 201910640709.0 | 申请日： | 2019-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN110349063A | 公开（公告）日： | 2019-10-18 |
| 发明（设计）人： | 方晓波 | 申请（专利权）人： | 广州市教育研究院 |
| 主分类号： | G06Q50/20 | 分类号： | G06Q50/20;G06K9/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 510000 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种学业成长曲线测试方法和系统，包括确定学业成长曲线测试周期；获取各个学生在测试周期内的评分因素的相关信息，评分因素的相关信息包括学生的日常评分、考试评分、拓展活动评分、交际能力评分和考试倾向性评分；根据评分因素的权重系数，计算出学生在该测试周期内的得分，根据各个测试周期的得分拟合出学业成长曲线。本发明综合学生的各个方面的因素，对学生进行全方面的成长测试。 | ||
| 搜索关键词： | 测试周期 成长曲线 评分因素 学生 相关信息 测试 交际能力 权重系数 拓展活动 考试 拟合 倾向性 | ||
【主权项】：
1.一种学业成长曲线测试方法，其特征在于，包括S1，确定学业成长曲线测试周期；S2，获取各个学生在测试周期内的评分因素的相关信息，评分因素的相关信息包括学生的日常评分、考试评分、拓展活动评分、交际能力评分和考试倾向性评分；S3，根据评分因素的权重系数，计算出学生在该测试周期内的得分，根据各个测试周期的得分拟合出学业成长曲线。
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