[发明专利]半导体器件在审

专利信息
申请号: 201910640800.2 申请日: 2019-07-16
公开(公告)号: CN110797339A 公开(公告)日: 2020-02-14
发明(设计)人: 俞尚旼;金柱然;罗炯柱;徐凤锡;郑主护;黄义澈;李城门 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/092 分类号: H01L27/092;H01L27/02;H01L21/8238
代理公司: 11330 北京市立方律师事务所 代理人: 李娜
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 提供了一种半导体器件,所述半导体器件包括:第一有源图案,所述第一有源图案沿第一方向纵长地延伸;第二有源图案,所述第二有源图案沿所述第一方向纵长地延伸并沿所述第一方向与所述第一有源图案间隔开。所述器件还包括位于所述第一有源图案与所述第二有源图案之间的场绝缘膜。所述场绝缘膜的上表面低于所述第一有源图案的上表面和所述第二有源图案的上表面或与所述第一有源图案的上表面和所述第二有源图案的上表面共面。所述器件还包括位于隔离沟槽中的元件隔离结构,所述隔离沟槽位于所述第一有源图案和所述场绝缘膜中。所述元件隔离结构的上表面高于所述第一有源图案的上表面和所述第二有源图案的上表面。
搜索关键词: 源图案 上表面 场绝缘膜 元件隔离结构 半导体器件 隔离沟槽 纵长 延伸
【主权项】:
1.一种半导体器件,所述半导体器件包括:/n第一有源图案,所述第一有源图案沿第一方向纵长地延伸;/n第二有源图案,所述第二有源图案沿所述第一方向纵长地延伸并沿所述第一方向与所述第一有源图案间隔开;/n场绝缘膜,所述场绝缘膜位于所述第一有源图案与所述第二有源图案之间,所述场绝缘膜的上表面低于所述第一有源图案的上表面和所述第二有源图案的上表面或与所述第一有源图案的所述上表面和所述第二有源图案的所述上表面共面;以及/n元件隔离结构,所述元件隔离结构位于隔离沟槽内,所述隔离沟槽位于所述第一有源图案和所述场绝缘膜中,其中,所述元件隔离结构的上表面高于所述第一有源图案的所述上表面和所述第二有源图案的所述上表面。/n
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