[发明专利]基于双目标函数粒子群优化的磁力计校正方法有效
| 申请号： | 201910644252.0 | 申请日： | 2019-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN110361683B | 公开（公告）日： | 2021-06-18 |
| 发明（设计）人： | 王伟;原雨佳;刘萌;王其朋;黄平;邬佳 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工程大学 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00;G06N3/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于双目标函数粒子群优化的磁力计校正方法，属于传感器标定领域。包括分析磁力计各种误差建立磁力计误差模型；建立粒子群优化算法中的双目标函数；根据基于冯诺依曼拓扑结构的粒子群优化算法求取磁力计误差参数。本发明解决了传统粒子群算法用于磁力计校正时因缺少对三轴磁场分量约束造成的正确率较低的问题；本发明采用冯诺依曼拓扑结构，有效的改善粒子容易陷入局部最优造成参数无法估计的情况，增强了算法的全局搜索能力；本发明不需要大量数据、良好的初值的条件以及噪声分布，操作简单，经过仿真实验证明，校正参数正确率能达到95％以上，并且在陀螺仪有较大误差的情况下保证算法简单，具有较高的工程实用性，应用前景广阔。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 双目 函数 粒子 优化 磁力计 校正 方法 | ||
【主权项】：
1.基于双目标函数粒子群优化的磁力计校正方法，其特征在于：具体包括以下步骤：步骤1、分析磁力计各种误差建立磁力计误差模型；步骤2、建立粒子群优化算法中的双目标函数；步骤3、根据基于冯诺依曼拓扑结构的粒子群优化算法求取磁力计误差参数。
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