[发明专利]一种适用于现场PMU测试的校准器相量测量方法有效
| 申请号： | 201910646842.7 | 申请日： | 2019-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN110389312B | 公开（公告）日： | 2021-01-01 |
| 发明（设计）人： | 刘灏;许苏迪;毕天姝 | 申请（专利权）人： | 华北电力大学 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00;G01R23/167 |
| 代理公司： | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人： | 郑立明;陈亮 |
| 地址： | 102206 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种适用于现场PMU测试的校准器相量测量方法，首先基于电力信号频谱和同步相量来获取数字带通滤波器进行相量测量的手段；获取卷积形式与乘积形式下相量测量滤波器系数及其频谱的关系；获取实序列低通滤波器的参数要求和设计手段，利用傅立叶变换的调制性质求得乘积形式下相量测量复序列带通滤波器系数；然后基于该带通滤波器系数进行频带提取，获得上传至主站的基波相量。利用该方法可以在电力系统复杂运行工况下，得到量测精度优于商用PMU算法的基波相量测量结果，提高测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 适用于 现场 pmu 测试 校准 器相量 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种适用于现场PMU测试的校准器相量测量方法，其特征在于，所述方法包括：步骤1、基于电力信号频谱和同步相量来获取数字带通滤波器进行相量测量的手段；步骤2、获取卷积形式与乘积形式下相量测量滤波器系数及其频谱的关系；步骤3、获取实序列低通滤波器的参数要求和设计手段，利用傅立叶变换的调制性质求得乘积形式下相量测量复序列带通滤波器系数；步骤4、然后基于该带通滤波器系数进行频带提取，获得上传至主站的基波相量。
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