[发明专利]包括场效应晶体管的半导体器件在审
申请号: | 201910649082.5 | 申请日: | 2019-07-18 |
公开(公告)号: | CN110739352A | 公开(公告)日: | 2020-01-31 |
发明(设计)人: | 金珍永;益冈有里 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06 |
代理公司: | 11105 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 弋桂芬 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明公开了一种半导体器件,该半导体器件包括:衬底,包括第一阱区;设置在衬底上的栅电极;设置在衬底和栅电极之间的半导体图案;设置在衬底上且在栅电极的相对两侧的多个源极/漏极图案;杂质层,设置在衬底中且在半导体图案与第一阱区之间;以及阻挡层,设置在衬底中且在半导体图案与杂质层之间。阻挡层包括氧。 | ||
搜索关键词: | 衬底 半导体图案 栅电极 半导体器件 杂质层 阻挡层 阱区 源极/漏极 相对两侧 图案 | ||
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:/n包括第一阱区的衬底;/n栅电极,设置在所述衬底上;/n半导体图案,设置在所述衬底和所述栅电极之间;/n多个源极/漏极图案,设置在所述衬底上且在所述栅电极的相反两侧;/n杂质层,设置在所述衬底中且在所述半导体图案和所述第一阱区之间;和/n阻挡层,设置在所述衬底中且在所述半导体图案和所述杂质层之间,/n其中所述阻挡层包括氧。/n
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