[发明专利]平面结构的不对称氧、硫通道实现AB堆积型双层石墨烯的逐层生长方法有效

专利信息
申请号: 201910649347.1 申请日: 2019-07-18
公开(公告)号: CN110422841B 公开(公告)日: 2022-11-18
发明(设计)人: 孙正宗;刘冰 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: C01B32/186 分类号: C01B32/186;H01L29/06;H01L21/328
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 张磊
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种平面结构的不对称氧、硫通道实现AB堆积型双层石墨烯的逐层生长方法。采用化学气相沉积法,在铜箔两面上生长单层石墨烯薄膜;采用低压常温空气等离子体技术,刻蚀去除铜箔一面单层石墨烯薄膜,氧化此面铜生成氧化亚铜;或采用氢气等离子体技术还原氧化亚铜再热沉积一层硫,得到结构为单层石墨烯薄膜/铜/氧化亚铜或单层石墨烯薄膜/铜/硫;采用化学气相沉积法,以甲烷和氢气为气源,在不对称基底的富氧或富硫的表面上,高温下甲烷分解产生碳原子,碳原子在固相铜里扩散,转移至单层石墨烯下面以AB堆积方式析出第二层石墨烯来得到双层石墨烯薄膜。本方法分步控制,操作简单,重复性好,利于大规模推广。制备的双层石墨烯薄膜其覆盖率达到95%,AB堆积方式的比例达到99%。
搜索关键词: 平面 结构 不对称 通道 实现 ab 堆积 双层 石墨 生长 方法
【主权项】:
1.一种平面结构的不对称氧、硫通道实现AB堆积型双层石墨烯的逐层生长方法,其特征在于具体步骤如下:(1)采用化学气相沉积方法,在经过电化学抛光的铜箔的两表面上生长出单层石墨烯薄膜,并在铜箔其中一面上用保护层覆盖;(2)采用低压常温空气等离子体技术,在步骤(1)得到的铜箔另一面用等离子体刻蚀去除单层石墨烯薄膜,同时氧化此面的铜形成富氧的表面,生成氧化亚铜,自上而下结构为:单层石墨烯薄膜/铜/氧化亚铜;或者采用氢气等离子体技术还原该面富氧的铜表面再热沉积一层硫,形成富硫的表面,自上而下结构为:单层石墨烯薄膜/铜/硫;从而得到一种平面结构的,含有不对称氧或硫通道的生长基底;(3)继续采用化学气相沉积法,在步骤(2)得到的生长基底的富氧或者富硫的表面上,高温分解气态碳源产生碳原子,通过碳原子在固相铜里扩散,转移到单层石墨烯薄膜下面,以AB堆积方式析出第二层石墨烯,最终形成AB堆积型双层石墨烯薄膜。
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