[发明专利]晶圆状态检测设备、方法及晶圆装卸载腔室有效
申请号: | 201910650284.1 | 申请日: | 2019-07-18 |
公开(公告)号: | CN110364461B | 公开(公告)日: | 2021-10-15 |
发明(设计)人: | 吴启东 | 申请(专利权)人: | 北京北方华创微电子装备有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/677 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 彭瑞欣;张天舒 |
地址: | 100176 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种晶圆状态检测设备、方法及晶圆装卸载腔室,该设备包括:第一传感器组,包括第一发射传感器和第一接收传感器,第一发射传感器向第一接收传感器发射第一光束,第一光束与片盒的放片位所在平面平行;第二传感器组,包括第二发射传感器和第二接收传感器,第二发射传感器向第二接收传感器发射第二光束,第二光束与第一光束之间具有预设夹角;控制装置,根据第一接收传感器和第二接收传感器发送的信号数据获得各个放片位上的晶圆状态。采用该设备能够有效、准确检测不同厚度的晶圆的分布状态。 | ||
搜索关键词: | 状态 检测 设备 方法 装卸 载腔室 | ||
【主权项】:
1.一种晶圆状态检测设备,其特征在于,包括第一传感器组、第二传感器组及控制装置,其中:所述第一传感器组包括第一发射传感器和第一接收传感器,所述第一发射传感器向所述第一接收传感器发射第一光束,所述第一光束与片盒的放片位所在平面平行;所述第二传感器组包括第二发射传感器和第二接收传感器,所述第二发射传感器向所述第二接收传感器发射第二光束,所述第二光束与所述第一光束之间具有预设夹角,所述预设夹角满足使相邻两个所述放片位上正常放置的晶圆先后沿垂直于所述放片位所在平面的方向穿过所述第二光束的过程中,所述第二光束能够穿过相邻两个所述放片位之间的间隙,并被所述第二接收传感器接收到;所述控制装置根据所述第一接收传感器和第二接收传感器发送的信号数据确定各个所述放片位上的晶圆的状态。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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