[发明专利]一种硬盘稳定性跌落测试方法、系统、终端及存储介质在审
| 申请号： | 201910656704.7 | 申请日： | 2019-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN110491438A | 公开（公告）日： | 2019-11-22 |
| 发明（设计）人： | 杨永峰 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 37205 济南舜源专利事务所有限公司 | 代理人： | 刘晓政<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种硬盘稳定性跌落测试方法、系统、终端及存储介质，包括：记录硬盘测试前的SMART日志中的初始坏块数量；通过FIO工具对硬盘持续施加压力；利用iostat‑xm 1记录硬盘在压力持续过程中的IO数据，并根据所述IO数据生成散点图，输出所述散点图；查询硬盘SMART日志中的坏块数量，并将所述坏块数量与初始坏块数量进行比对，得到并输出比对结果。本发明操作简便，具有较强易用性，程序中各模块之间结构清晰，便于维护。从程序运行后生成的散点图可以快速的判断有无跌落情况，实现了硬盘稳定性的检测确认，也提高了测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 硬盘 坏块 散点图 跌落 测试 输出 比对结果 程序运行 持续过程 存储介质 施加压力 硬盘测试 易用性 比对 记录 终端 查询 检测 清晰 维护 | ||
【主权项】：
1.一种硬盘稳定性跌落测试方法，其特征在于，包括：/n记录硬盘测试前的SMART日志中的初始坏块数量；/n通过FIO工具对硬盘持续施加压力；/n记录硬盘在压力持续过程中的IO数据，并根据所述IO数据生成散点图，输出所述散点图；/n查询硬盘SMART日志中的坏块数量，并将所述坏块数量与初始坏块数量进行比对，得到并输出比对结果。/n
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