[发明专利]屏幕显示状态检测方法、装置、终端设备及可读存储介质有效
申请号: | 201910670697.6 | 申请日: | 2019-07-23 |
公开(公告)号: | CN110351549B | 公开(公告)日: | 2021-11-09 |
发明(设计)人: | 吴雪峰;雷登似;高文周;潘德灼 | 申请(专利权)人: | TCL王牌电器(惠州)有限公司 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 宋朝政 |
地址: | 516006 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种屏幕显示状态检测方法、装置,设备及可读存储介质。该方法包括步骤:获取终端设备屏幕的第一检测图像,并对第一检测图像进行滤波处理,得到第二检测图像;根据预设的分割阈值对第二检测图像进行分割,以标记出第二检测图像中的参照点,得到标记后的第三检测图像;通过高斯掩膜卷积处理第三检测图像,以确定第三检测图像上是否存在参照直线;若确定第三检测图像上存在参照直线,则在第三检测图像中标记出参照直线。本发明实现了对终端设备屏幕显示状态的自动检测,提高了对终端设备屏幕显示状态检测的效率和检测结果的准确率。 | ||
搜索关键词: | 屏幕 显示 状态 检测 方法 装置 终端设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】:
1.一种屏幕显示状态检测方法,其特征在于,所述屏幕显示状态的检测方法包括以下步骤:获取终端设备屏幕的第一检测图像,并对所述第一检测图像进行滤波处理,得到第二检测图像;根据预设的分割阈值对所述第二检测图像进行分割,以标记出所述第二检测图像中的参照点,得到标记后的第三检测图像,其中,参照点为亮度值满足预设参照点标准的像素点;通过高斯掩膜卷积处理所述第三检测图像,以确定所述第三检测图像上是否存在参照直线,其中,参照直线为第三检测图像中满足预设参照直线标准的直线;若确定所述第三检测图像上存在所述参照直线,则在所述第三检测图像中标记出所述参照直线。
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