[发明专利]一种六氟化硫气体中杂质分析方法在审
| 申请号： | 201910676804.6 | 申请日： | 2019-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN110376304A | 公开（公告）日： | 2019-10-25 |
| 发明（设计）人： | 苗玉龙;谢刚文;姚强;张施令;侯雨杉;邱妮 | 申请（专利权）人： | 国网重庆市电力公司电力科学研究院;国家电网有限公司 |
| 主分类号： | G01N30/02 | 分类号： | G01N30/02;G01N30/20;G01N30/66;G01N30/96 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人： | 贺春林 |
| 地址： | 401123 重庆市渝北*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种六氟化硫气体中杂质分析方法，所述方法包括如下步骤：搭建包括热导检测器TCD和火焰光度检测器FPD的气相色谱仪测试系统；根据杂质气体类型选择所述气相色谱仪测试系统的色谱柱；对所述气相色谱仪测试系统进行标定；对样品气体进行定量采集；通过定量采集的气体通过所述气相色谱仪测试系统进行定量分析。本发明方法能够实现六氟化硫中多种杂质气体的定量检测。 | ||
| 搜索关键词： | 气相色谱仪 测试系统 六氟化硫气体 定量采集 杂质分析 杂质气体 火焰光度检测器 热导检测器 定量分析 定量检测 六氟化硫 气体通过 样品气体 色谱柱 标定 | ||
【主权项】：
1.一种六氟化硫气体中杂质分析方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：搭建包括热导检测器TCD和火焰光度检测器FPD的气相色谱仪测试系统；根据杂质气体类型选择所述气相色谱仪测试系统的色谱柱；对所述气相色谱仪测试系统进行标定；对样品气体进行定量采集；将定量采集的气体通过所述气相色谱仪测试系统进行定量分析。
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